在電路的邏輯設(shè)計完成后，通常是以手工的方式來加入可測試性（Testability）設(shè)計。激烈的市場競爭要求更短的設(shè)計開發(fā)周期，這樣的可測試性設(shè)計方法已成為嚴(yán)重的設(shè)計瓶頸。隨著設(shè)計進(jìn)入了以綜合為基礎(chǔ)的階段，將測試與綜合結(jié)合起來，以自動化的方式來實現(xiàn)可測試性設(shè)計已成為必須的趨勢。

開關(guān)電源之PCB可測試性的關(guān)鍵技術(shù)
開關(guān)電源之PCB可測試性的關(guān)鍵技術(shù)包括：可測試性的度量、可測試性機(jī)制的設(shè)計與優(yōu)化和測試信息的處理與故障診斷。
提高印制板的可測試性，首先就要對開關(guān)電源之PCB的可測試性水平進(jìn)行度量，一般包括精確性和簡單性兩個方面。精確性是指可測試性的度量方法能準(zhǔn)確地預(yù)計產(chǎn)品測試程序生成的困難，并且定位到產(chǎn)品某一部位，從而便于產(chǎn)品設(shè)計進(jìn)行可測試性更改。簡單性是指度量可測試性的計算量應(yīng)小于測試程序生成的計算量。

開關(guān)電源之PCB的可測試性設(shè)計過程實際上就是將某種能夠方便測試進(jìn)行的可測試性機(jī)制引入到PCB中，提供獲取被測對象內(nèi)部測試信息的信息通道。因此，合理有效的設(shè)計可測試性機(jī)制是成功地提高開關(guān)電源之PCB可測試性水平的保障。可測試性機(jī)制的引入一方面會提高系統(tǒng)的可測試性水平，從而降低產(chǎn)品的全壽命周期費(fèi)用，但另一方面也在一定程度上提高了產(chǎn)品的初始成本。

進(jìn)行可測試性機(jī)制設(shè)計優(yōu)化就是要綜合權(quán)衡各種可測試性機(jī)制的性能和費(fèi)用，采用性能費(fèi)用比最佳的設(shè)計機(jī)制。提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，降低產(chǎn)品全壽命周期費(fèi)用，要求可測試性設(shè)計技術(shù)能夠方便快捷地獲取測試時的反饋信息，能夠很容易地根據(jù)反饋信息做出故障診斷。